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    薄膜電容CL21-400V-473J

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    產品用途及特點:

    適用于旁路、隔直和耦合、濾波,低脈沖線路,無感結果容量范圍寬,體積小,自愈的性能好,壽命長等特點。

    ● 符合RoHS指令

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    產品參數 / Product Details

    • 【產品型號】CL21-400V-473J
    • 【所屬分類】CL21薄膜電容
    • 【本體高度】13mm
    • 【電容量】0.047μF
    • 【本體厚度】11mm
    • 【容量編號】473
    • 【本體寬度】8mm
    • 【主要材料】金屬化聚乙脂
    • 【額定電壓】400VDC
    • 【引線間距】10mm
    • 【測試電壓】1800VDC
    • 【引線長度】3-22mm
    • 【標準偏差】J(±5%)
    • 【引線直徑】0.6mm
    • 【損耗角正切】tanδ≤0.0010 1KHz
    • 【絕緣電阻】IR≥15000MΩ IR≥6000S(MΩ/μF)
    • 【溫度范圍】-40℃~+110℃
    如需了解其它參數請通過右側電話或者微信 、QQ咨詢

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    產品詳細 / Product Details

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    推薦閱讀 / Product Details


    之前小編有跟大家說過薄膜電容器的損耗與溫度,濕度的關系。而今天小編要說的是薄膜電容器的損耗與頻率的關系。薄膜電容器在使用過程中會存在損耗,而損耗的大小受到很多因素的影響。一起來了解一下吧!

    所謂的損耗是指電容器在電場的作用下,電容器因為發熱而損失掉的能量。而薄膜電容器的損耗與頻率關系要說到薄膜電容器的介質極性。所謂的薄膜電容器介質的極性,是指電容器介質的分子中原子吸引電子的能力不同,使得分子內不同的原子顯示不同的電性。如果介質分子內電荷中心重合的話,則電容器介質就是非極性的,如果不中心重合,電容器介質則是極性的。


    如果薄膜電容器的介質是極性的,那么電容器在低頻和中頻的范圍內,薄膜電容器的損耗主要由介質決定的,高頻范圍內的損耗主要由金屬部分引起的。如果薄膜電容器使用的介質時非極性的,那么在低頻范圍內薄膜電容器的損耗主要是介質的電導損耗所造成的,在高頻則主要是金屬部分造成的。

    看完這方面的內同,相信大家都了解清楚薄膜電容器的損耗與頻率的關系。

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    CL21-400V-333J

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